Autor
eggert@mikroanalytik.de
ab 2006
Senior Scientist / Software
EDAX Inc. (AMETEK)
(
www.edax.com)
2007-2004
zusätzliche Projektarbeit
IfG - Institute for Scientific Instruments GmbH
(
ifg-adlershof.de)
und
IAP - Institut für Angewandte Photonik e.V.
(
iap-adlershof.de)
Software für Röntgenfluoreszenzanalyse / Mikro-RFA /
Bearbeitung und quantitative Auswertung von RFA-Spektren
(iMOXS-Quant / Pascal- und C++Programmierung)
ab 2002
zusätzliche selbständige Arbeit am Projekt
mikroanalytik.de
(
www.mikroanalytik.de)
Datenbasis für die Auswertung von Röntgenspektren / Spektrensimulation ESMA
(MA-Table / Pascal- und C++Programmierung / Datenbanken)
2006-2001
Mitarbeiter für Software/Applikation
Röntgenanalytik Apparatebau GmbH
(
roentgenanalytik.de)
Software für Röntgenfluoreszenzanalyse / Analyse von dünnen Schichten / digitaler Impulsprozessor
(Pascal- und C++Programmierung / Datenbanken)
2001-1992 Produktmanager Mikroanalyse / Entwicklungsleiter (ab 1995) in der RÖNTEC GmbH
EDR-288 /M-Serie und EDWIN Mikroanalysatoren, quantitative Spektrenauswertung
(RT-Tools und WinTools mit PUzaf / Pascal-Programmierung)
1991-1983 Wissenschaftlicher Mitarbeiter ZWG/AdW
EDR-184 Mikroanalysator, quantitative Spektrenauswertung (QMA-184 /BASIC-Programm)
1983-1978
Studium der Physik / TU Dresden
(1981-1983) Praktika und Diplomarbeit zum Thema ESMA
"Möglichkeiten der quantitativen Elementanalyse bei direkter Einbeziehung des
Bremsstrahlungsuntergrundes in das Analysenproblem"
EGGERT, F.
'EDX-Spectra Simulation in Electron Probe Microanalysis,
Optimization of Excitation Conditions and Detection Limits'
Microchimica Acta 155 (2006) 129-136
( correction
Download der Korrektur
)
PROCOP,M.; HODOROABA,V.-D.; BJEOUMIKHOV,A.; EGGERT,F.; WEDELL,R.
'Combination of Electron Probe Microanalysis and X-Ray Fluorescence Analysis
in a Scanning Electron Microscope'
Microscopy Societ of South Africa - Proceedings Vol.36 (2006) 26
STRÜDER,L.; MEIDINGER,N.; STOTTER,D.; KEMMER,J.; LECHNER,P.; LEUTENEGGER,P.; SOLTAU,H.;
EGGERT,F.; ROHDE,M.; SCHÜLEIN,T.
'High-Resolution X-ray Spectroscopy Close to Room Temperature'
Downloads
Microsc. Microanal. 4(6)(1998) 622-631
EGGERT, F.
'Effektivität Energiedispersiver Röntgenspektrometer im Energiebereich
kleiner 1 keV'
Downloads
Beitr. Elektronenmikroskop. Direktabb. Oberfl. 29 (1996) 31
EGGERT, F.
'Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse'
Downloads
Beitr. Elektronenmikroskop. Direktabb. Oberfl. 27 (1994) 15
EGGERT, F.; MANECK,M.; SCHOLZE,F.; KRUMREY,M.; TEGELER,E.
Rev. Sci. Instrum. 62 (1991) 741
EGGERT, F.
'To Simple, Practical Correction Procedures for Spectra Processing in
Energy-Dispersive X-Ray Spectrometry'
X-Ray Spectrometry 19 (1990) 97
EGGERT, F.
'The efficiency of peak deconvolution based on probability theory in comparison
with other linear deconvolution methods'
Transact. 12. Intern. Congr. on X-Ray Optics and Microanalysis, Cracow (1989) 75
EGGERT, F.; HECKEL, J.
'Die standardfrie quantitative Analyse auf der Basis der lokalen Peak/Untergrund-
Verhältnisse mit dem energiedispersiven Röntgenmikroanalysator EDR-184'
Experim. Techn. d. Physik 34 (1986) 201
EGGERT, F.; SCHOLZ, W.
'A Rapid Deconvolution Method Based on the Bayesian Theorem Applied to
Energy Dispersive X-Ray Emission Analysis - Improvements and Error Influences'
phys. stat. sol. (a) 97 (1986) K9
EGGERT, F.; SCHOLZ, W.
'A Rapid Deconvolution Method Based on the Bayesian Theorem Applied to
Energy Dispersive X-Ray Emission Analysis'
phys. stat. sol. (a) 88 (1985) K123
EGGERT, F.
'Eine schnelle Methode zu Berechnung des Bremsstrahlungsuntergrundes für die
energiedispersive Elektronenstrahl-Mikroanalyse'
Experim. Techn. d. Phys. 33 (1985) 441
