MIKROANALYTIK.DE   



             Autor

Frank Eggert
Am Baltenring 55
12621 Berlin
  eggert@mikroanalytik.de

Einstieg in die Elektronenstrahl-Mikroanalyse (ESMA) und Energiedispersive Röntgenspektrometrie:        1981

Vita:

     ab 2006      Senior Scientist / Software    EDAX Inc. (AMETEK)    (   www.edax.com)

2007-2004      zusätzliche Projektarbeit     IfG - Institute for Scientific Instruments GmbH      (   ifg-adlershof.de)
                        und    IAP - Institut für Angewandte Photonik e.V.      (   iap-adlershof.de)
                        Software für Röntgenfluoreszenzanalyse / Mikro-RFA /
                       Bearbeitung und quantitative Auswertung von RFA-Spektren
                        (iMOXS-Quant / Pascal- und C++Programmierung)

     ab 2002      zusätzliche selbständige Arbeit am Projekt    mikroanalytik.de      (   www.mikroanalytik.de)
                        Datenbasis für die Auswertung von Röntgenspektren / Spektrensimulation ESMA
                        (MA-Table / Pascal- und C++Programmierung / Datenbanken)

2006-2001      Mitarbeiter für Software/Applikation     Röntgenanalytik Apparatebau GmbH      (   roentgenanalytik.de)
                        Software für Röntgenfluoreszenzanalyse / Analyse von dünnen Schichten / digitaler Impulsprozessor
                        (Pascal- und C++Programmierung / Datenbanken)

2001-1992      Produktmanager Mikroanalyse / Entwicklungsleiter (ab 1995) in der RÖNTEC GmbH
                        EDR-288 /M-Serie und EDWIN Mikroanalysatoren, quantitative Spektrenauswertung
                        (RT-Tools und WinTools mit PUzaf / Pascal-Programmierung)

1991-1983      Wissenschaftlicher Mitarbeiter ZWG/AdW
                        EDR-184 Mikroanalysator, quantitative Spektrenauswertung (QMA-184 /BASIC-Programm)

1983-1978      Studium der Physik / TU Dresden
                        (1981-1983) Praktika und Diplomarbeit zum Thema ESMA
                        "Möglichkeiten der quantitativen Elementanalyse bei direkter Einbeziehung des
                        Bremsstrahlungsuntergrundes in das Analysenproblem"



Publikationen:

EGGERT, F.                               'EDX-Spectra Simulation in Electron Probe Microanalysis,
                                                   Optimization of Excitation Conditions and Detection Limits'

                                                   Microchimica Acta 155 (2006) 129-136      ( correction    Download der Korrektur )
PROCOP,M.; HODOROABA,V.-D.; BJEOUMIKHOV,A.; EGGERT,F.; WEDELL,R.
                                                  'Combination of Electron Probe Microanalysis and X-Ray Fluorescence Analysis
                                                  in a Scanning Electron Microscope
'
                                                   Microscopy Societ of South Africa - Proceedings Vol.36 (2006) 26
STRÜDER,L.; MEIDINGER,N.; STOTTER,D.; KEMMER,J.; LECHNER,P.; LEUTENEGGER,P.; SOLTAU,H.; EGGERT,F.; ROHDE,M.; SCHÜLEIN,T.
                                                  'High-Resolution X-ray Spectroscopy Close to Room Temperature'   Downloads 
                                                   Microsc. Microanal. 4(6)(1998) 622-631
EGGERT, F.                               'Effektivität Energiedispersiver Röntgenspektrometer im Energiebereich
                                                   kleiner 1 keV'
     Downloads 
                                                   Beitr. Elektronenmikroskop. Direktabb. Oberfl. 29 (1996) 31
EGGERT, F.                               'Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse'      Downloads 
                                                   Beitr. Elektronenmikroskop. Direktabb. Oberfl. 27 (1994) 15
EGGERT, F.; MANECK,M.; SCHOLZE,F.; KRUMREY,M.; TEGELER,E.
                                                   Rev. Sci. Instrum. 62 (1991) 741
EGGERT, F.                               'To Simple, Practical Correction Procedures for Spectra Processing in
                                                   Energy-Dispersive X-Ray Spectrometry'

                                                   X-Ray Spectrometry 19 (1990) 97
EGGERT, F.                               'The efficiency of peak deconvolution based on probability theory in comparison
                                                    with other linear deconvolution methods'

                                                   Transact. 12. Intern. Congr. on X-Ray Optics and Microanalysis, Cracow (1989) 75
EGGERT, F.; HECKEL, J.         'Die standardfrie quantitative Analyse auf der Basis der lokalen Peak/Untergrund-
                                                   Verhältnisse mit dem energiedispersiven Röntgenmikroanalysator EDR-184'

                                                   Experim. Techn. d. Physik 34 (1986) 201
EGGERT, F.; SCHOLZ, W.       'A Rapid Deconvolution Method Based on the Bayesian Theorem Applied to
                                                   Energy Dispersive X-Ray Emission Analysis - Improvements and Error Influences'

                                                   phys. stat. sol. (a) 97 (1986) K9
EGGERT, F.; SCHOLZ, W.       'A Rapid Deconvolution Method Based on the Bayesian Theorem Applied to
                                                   Energy Dispersive X-Ray Emission Analysis'

                                                   phys. stat. sol. (a) 88 (1985) K123
EGGERT, F.                               'Eine schnelle Methode zu Berechnung des Bremsstrahlungsuntergrundes für die
                                                   energiedispersive Elektronenstrahl-Mikroanalyse'

                                                   Experim. Techn. d. Phys. 33 (1985) 441


Vorträge:             Downloads 

"EDX Spectra Simulation in EPMA / Optimisation of Excitation Conditions, Calculation of Detection Limits"
                        Poster EMAS 2005, Florenz (April 2005)
"EDX-Spektrensimulation - Optimierung der Messbedingungen und Berechnung von Nachweisgrenzen in der ESMA "
                        Vortrag Tagung EDO 2004, Wuppertal (Sept 2004)
"Analyse sehr dünner Schichten mit Röntgen-Fluoreszenz - Leistungsfähigkeit und Nachweisgrenzen "
                        Vortrag Tagung EDO 2004, Wuppertal (Sept 2004)
"EDX unregelmäßiger Oberflächen und leichter Elemente"
                        Vortrag Frühjahrsschulung, Kurs R3, Münster (März 2003)
"Aktuelle Anwendungen der Bremsstrahlung in der energiedispersiven ESMA"
                        Vortrag Tagung EDO 2002, Wuppertal (Sept. 2002)
"Grundlagen und Probleme der quantitativen Analytik mittels EDX"
                        Vortrag Deutsche Gesellschaft Kristallografie /AG Elektronenmikroskopie (Kiel 2002)
"Element Imaging with MultiMax"       EMAS (Tampere 2001)
"Element Imaging mit dem MultiMax"       EDO (Saarbrücken 2000)
"Standardfreie Elektonenstrahl Mikroanalyse kontra Standardvergleich?"       EDO (Saarbrücken 1998)
"Quantitative Elementbilder"       EDO (1996)
"Effektivität Energiedispersiver Röntgenspektrometer im Energiebereich kleiner 1 keV"       EDO (1996)
"Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse"       EDO (1994)



Zurück